橡膠絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀

介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述

GDAT高頻 Q 表作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前國內(nèi)高的160MHz。

GDAT高頻 Q 表采用了多項優(yōu)秀技術(shù)：

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。 

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 

雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。 

自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 

全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 

DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。 

計算機自動修正技術(shù)和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低，緩解 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。 

gdat高頻Q表的創(chuàng)新設(shè)計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具

，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。 

橡膠絕緣介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀

二、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設(shè)定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

該儀器用于科研機關(guān)、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。

  三、主要技術(shù)特性  

Q 值測量范圍  2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動換檔或手動換檔  

固有誤差  ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  

工作誤差  ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）  

電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  

電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  

主電容調(diào)節(jié)范圍  18 ～ 220pF  

主電容調(diào)節(jié)準確度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  

信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  

頻率分段 （ 虛擬 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  

頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用

四 . 概述

BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套，可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)（損耗角正切值）。

BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品，它采用了數(shù)顯微測量裝置，因而讀數(shù)方便，數(shù)據(jù)精確。

測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成。

平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。

BD916介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器，通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值。

從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。 

五、BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選 　　　　　 

極片間距可調(diào)范圍：≥15mm 

2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 

3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 

4．測微桿分辨率：0.001mm

電感：

線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  

  9         100KHz      98       9.4           25mH

  8         400KHz     138       11.4        4.87mH

  7         400KHz    202       16           0.99mH

  6           1MHz     196       13          252μH

  5           2MHz     198       8.7        49.8μH

  4         4.5MHz    231       7             10μH 

  3          12MHz      193     6.9         2.49μH

  2          12MHz      229     6.4        0.508μH

  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

六、北廣公司其它絕緣材料檢測儀器: 

BDJC-0-100KV 介電擊穿試驗儀

BDJC系列絕緣材料工頻率介電擊穿試驗儀

BDJC系列電壓介電強度試驗儀器

BDJC系列 電壓擊穿試驗儀 

BDJC系列絕緣漆漆膜擊穿強度試驗儀

BDJC電容器紙工頻電壓擊穿試驗儀

EST-121 體積表面電阻率測定儀 

GDAT-A介質(zhì)損耗測試儀/介電常數(shù)測試儀 

GDAT-C新型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀

BDH 耐漏電起痕試驗儀

BDH-B耐電弧試驗儀

               注重每一個細節(jié)是北廣公司對于每個客戶的承諾 ， 也是北廣公司一直追求的宗旨。

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